USB 测试转接头

用于Micro USB, USB Type C, USB3.0等的功能测试,老化测试和自动化测试;使用寿命长,可达15000次以上

  • 引脚数: 4~24
  • Sireda:
  • 间距: 0.5mm

USB 测试转接头

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1498021773838812.gifMicro USB, Type C, USB3.0 等的测试转接插头

1498021773838812.gif比市面上销售的此类接头寿命长很多

1498021773838812.gif可用于功能测试,老化测试和自动化测试

1498021773838812.gif方便维护与更换


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704-0000346 USB3.0 A 用于母头测试 


测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

704-0000356 USB3.0 A 用于母头测试



Micro USB  5 PIN - I.jpg

704-0000045 Micro USB  5 PIN 用于母头测试 - I



Micro USB  5 PIN - 2.jpg

 704-0000070 Micro USB  5 PIN 用于母头测试 - II



USB Type-C 24 PIN.jpg


704-0000095 USB Type-C 24 PIN 用于母头测试 



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  • 用于Micro USB, USB Type C, USB3.0 等的功能测试,老化测试和自动化测试;

  • 采用优质不锈钢材料或工程塑胶材料,磨损低、寿命长

  • 信号PIN采用导电性佳、时延低、弹性极佳的铍铜材料,接触电阻小于50毫欧;

  • 使用寿命长,可达15000次以上;

  • 可极大降低维护成本及提高维护效率,无需更换整条USB cable


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机械性能

接头材料:    SUS/PEI

接触类型:       铍铜端子

工作温度:  -40 ~ 125度

接触寿命:        1.5万次


电性能

额定电流:  1.0A

DC电阻:         <50毫欧



产品编码名称描述封装引脚数    材质备注
704-0000345测试转接头USB3.0 A Male 60mm 180° CuUSB3.0 A9 PEI公头
704-0000045测试转接头Micro USB 2.0 Male 180° MMicro USB5 SUS/PEI公头
704-0000070
测试转接头Micro USB 2.0 Male 90° MMicro USB5 SUS/PEI公头
704-0000293测试转接头USB Type-C Male MUSB Type C24 PEI公头
704-0000356测试转接头USB3.0 A Male 45.0mm 180° CuUSB3.0 A9 PEI公头

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