DDR测试治具

提供8位及16位的测试治具,限位框可更换,导电体采用GCR或者探针,DDR3和DDR4结构兼容;最高频率可达3.2GHz.

  • 引脚数: 不限
  • Sireda: Pogo pin
  • 间距: 大于0.35mm

DDR测试治具

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1498021773838812.gifDDR颗粒的测试、诊断、验证

1498021773838812.gif失效分析

1498021773838812.gifDDR颗粒筛选

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  • DDR测试治具可适用于DDR颗粒的测试,筛选

  • 最高可支持3.2GHz

  • 提供GCR及Pogo Pin二种导电方式

  • 采用测试专用 PCB, 金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的5倍,保证测试

    治具有更好的导通性和耐磨性

  • 高精度金属IC定位框,保证IC定位精度

  • 结构设计兼容DDR4, DDR3升级到DDR4只需更换PCBA

  • 产品通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试不同尺寸的颗粒


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机械性能

测试座材料: Peek陶瓷/ FR-4

座头材料:  AL

探针类型:       弹簧探针/导电胶

工作温度:  -40 ~ 140度

探针寿命:        10万次

弹簧弹力:  20g ~ 30g per Pin


电性能

额定电流:  3A

DC电阻:          80毫欧(最大)


产品编码名称描述封装引脚数导电体
材质备注
703-0000253DDR Fixture
BGA96 0.8mm DDR3x16 PIN C 4ea BGA96Pogo Pin
Peek陶瓷
703-0000295DDR FixtureBGA96 0.8mm DDR3x16 GCR D C 4eaBGA96GCR

703-0000321DDR FixtureBGA78 0.8mm DDR3x8 GCR D C 8eaBGA78GCR
Peek陶瓷
703-0000290DDR FixtureBGA84 0.8mm DDR2x16 IG/B 4eaBGA84GCR
Peek陶瓷
703-0000283DDR FixtureBGA96 0.8mm DDR4x16 PIN D C 4ea BGA96GCR
Peek陶瓷

我司提供DDR2,DDR3,DDR4测试方案,并根据不同的客户需求开发了导电胶款(GCR)、探针款(Pogo Pin), 更多DDR测试治具方案请点击DDR治具目录

如需提供定制化的测试治具方案,请联系sales@sireda.com