Support: PCIe Gen4 and SAS4.0
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F1 Solution

F1 Solution

适用于芯片的测试和分析，可访问时钟、选通、数据、地址和命令信号，可结合仪器进行电气和计时测量

  • 引脚数： 不限
  • Sireda：
  • 间距： 大于0.35mm

F1方案

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1498021773838812.gif芯片测试、分析、验证工具

1498021773838812.gif实时测量电气、计时

1498021773838812.gif适用于间距0.35mm及以上产品

BGA153 UFS F1.jpg




斯纳达

Differential Line Return Loss(RL)


斯纳达

Differential Line Insertion Loss(IL)

1503280439935046.jpg

  • F1方案的设计主要适用于芯片的快速验证及Debug分析， 如eMMC,

    eMCP, UFS, LPDDR3,LPDD4.

  • 拥有设计专利的转接板(又名Interposer)能有效的避免测试主板焊盘

    氧化、锡渣残留、主板损坏等问题。

  • F1方案基于客户的应用平台，确保测试环境与实际应用一致。

  • 创新的转接板设计不再局限于产品类型，焊接后能直接使用，大大

    缩短了开发周期。

  • 可实时分析信号、查看数据传输等。

  • 可根据客户的需求提供转接板开发，并提供完整的电气测试报告。


1503280498569006.jpg

机械性能

测试座材料：　Peek陶瓷

座头材料：　　AL，Cu，POM

探针类型：       弹簧探针

工作温度：　　-40 ~ 140度

探针寿命：        10万次

弹簧弹力：　　20g ~ 30g per Pin


电性能

额定电流：　　3A

DC电阻：          80毫欧(最大)


产品编码名称描述封装引脚数材质备注
702-0000624F1 SolutionBGA153 0.5mm eMMC DT100 11.5x13mm F1 A BGA153Peek陶瓷
702-0000953F1 SolutionBGA153 0.5mm UFS DT-mini 11.5x13mm F1BGA153Peek陶瓷
702-0000723F1 SolutionBGA162 0.5mm eMCP DT100 11.5x13mm F1 A BGA162Peek陶瓷
702-0000783F1 SolutionBGA169 0.5mm eMMC DT100 12x18mm F1 A BGA169Peek陶瓷
702-0001001F1 SolutionBGA221 0.5mm eMCP DT100 11.5x13mm F1 A BGA221Peek陶瓷

我司可提供BGA、LGA、QFN、QFP、SOP等封装的F1方案， 更多F1方案目录请点击下载

如需提供定制化的F1方案，请联系sales@sireda.com


标签: F1方案 BGA153 UFS

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