BGA200 LPDDR4 测试盒

BGA200 LPDDR4 测试盒用于BGA200芯片的功能测试 测试内容含但不限于如下: RD test, WR test, Self Refresh test, Address test, Moving inversions, Block move, Bit fade test, Random number sequence, RH test, Scan test, 等

  • 引脚数: 200
  • Sireda:
  • 间距: 0.65mm

BGA200 LPDDR 测试盒

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1498021773838812.gif 基于BGA200的FT级测试平台;

1498021773838812.gif用于BGA200 LPDDR4 或LPDDR4x的功能测试盒;

1498021773838812.gif测试软件中采用了优良的算法,测试稳定可靠;

1498021773838812.gif用于美光,三星,及国内各大厂家的BGA200 LPDDR 芯片测试


测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

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  • 提供3款不同容量的测试盒,分别为 2GB, 3GB, 4GB;

  • 超低压core 和I/O 供电:

          - VDD1 = 1.70~1.95V; 1.80V 名义值

          - VDD2 = 1.06~1.17V; 1.10V 名义值

          - VDDQ = 0.57~0.65V; 0.60V 名义值

         或 VDDQ = 1.06~1.17V; 1.10V n名义值

  • 频率范围 - 1866~10MHz (每pin速率范围: 3733~20 Mb/s)

  • 2GB容量的芯片测试时间为15~20分钟,3GB和4GB的芯片测试时间更长;

  • 自带屏幕,显示即时测试状态,和测试结果;

  • 测试操作简便,直接通过Type C接头加上电就可测试,维护容易; 

  • 支持热插拔。

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机械性能

测试座材料: AL, PEI

座头材料:  AL, PEI

接触类型:       PCR导电胶

工作温度:  -25~ 85度

接触寿命:        5万次

弹簧弹力:  20g ~ 30g 每Pin


电性能

额定电流:  2A

DC电阻:          <100毫欧



BGA200 LPDDR 测试盒
  • BGA200 LPDDR 测试盒用于BGA200芯片的功能测试;

  • 用于智能手机,平板电脑,智能电脑,机顶盒,智能音箱,行车记录仪,智能摄像头等的BGA200封装的芯片,均可以采用此测试盒进行FT测试;

  • 测试内容含但不限于如下: RD test, WR test, Self Refresh test, Address test, Moving inversions, Block move, Bit fade test, Random number sequence, RH test, Scan test, 等;

  • 如果您对 BGA200 LPDDR测试盒感兴趣,或有疑问,欢迎发送邮件至:sales@sireda.com. 欢迎来询!

 Sireda Technology|Test Socket|test fixture