双扣旋压测试座用于CPU, eMMC, eMCP, DDR, Nand等半导体产品的测试,验证等适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装适用...
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https://www.sireda.com/product/NM存储卡读卡器-cn.htmlRJ11测试转接头 RJ11等的测试转接插头 有 RJ11-4P4C, RJ11-6P4C, RJ11-6P6C3个种类可用于功能测试,老化测试...
https://www.sireda.com/product/RJ11测试转接头-cn.htmlUSB Type C 测试转接头USB Type C, Micro USB, USB3.0 等的测试转接插头比市面上销售的此类接头寿命长很多可用于功能...
https://www.sireda.com/product/TypeC测试转接头-cn.htmlRJ45 测试转接头 RJ45 等的测试转接插头比市面上销售的此类接头寿命长很多可用于功能测试,老化测试和自动化测试方便维护与更换 ...
https://www.sireda.com/product/RJ45测试转接头-cn.html翻盖旋压测试座 适用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封装适用于半导体产品的测试,验证,烧录,等适用于间距0.35mm及以上产品翻盖下压...
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