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    测试座 – TO系列老化座

    • 引脚数2~20
    • 导电体
    • 间距1.0~2.54mm
    • 封装类型TO 封装

    用于TO封装的光器件或同轴器件的测试,老化等, 包含TO46,TO56两个系列。

    1. 详细信息

    测试座 – TO系列老化座

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    1498021773838812.gif  塑胶主体采用进口LCP/PPS阻燃级耐高温;

    1498021773838812.gif  温度120~135℃,可连续使用大于5000小时;

    1498021773838812.gif  温度135~150℃,可连续使用大于200小时;

    1498021773838812.gif  寿命高,可达2万次插拔;

    1498021773838812.gif  接触端子采用进口铍铜,触点镀金,接触稳定可靠。


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    TO56-5-2.54 规格书.png

      

             提供多款型号的TO老化座:TO46-4-2.54

                                                           TO46-5-2.54

                                                           TO56-4-2.0

                                                           TO56-5-2.2

                                                           TO56-5-2.54


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    • TO系列测试座用于光器件或同轴器件的电气性能测试或老化测试;

    • 高耐温等级,高测试稳定性;

    • 高性价比;

    • 提供TO46和TO56两个系列的测试座,有其他需求可洽谈

    • 需妥善保存和运输TO系列老化座,以免引起损伤测试座PIN脚,对测试产生影响



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    机械性能

    测试座材料: LCP,PPS

    端子材料:  铍铜镀金

    工作温度:  120 ~ 135

    端子寿命:        2万次


    电性能

    额定电流:  2A 

    DC电阻:         <50


    TO系列老化座的应用

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    TO56也就是说,TO底座的外径为5.6mm的一种封装方式。主要的应用范围就是常规光器件,因为5.6mm大小适中,与常规的SFP模块、XFP模块结构均能够吻合,所以得到了巨大的发展。目前主要应用于LD-TO器件。


    TO46主要应用于PD-TO。其实早期PD也使用TO56,是因为光器件收端从焊接工艺切换为胶水工艺后,由于体积要求减少,而使用的TO46。

    我们提供各种封装如BGA,QFN,LGA,QFP,SOP,TO,Connector 等器件的测试座,老化座,测试治具等,如有其他需求,请邮件联系我们:sales@sireda.com.

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