Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

M.2 接口测试座

M.2 接口的SSD测试座采用了全新的零插拨力的夹紧方式,将M.2放入和取出测试座时M.2的金手指不受力,从而避免了金手指的刮伤。该测试座还具有高精度的夹紧力,可以确保测试信号的稳定性和可靠性。此外,该测试座还支持自动化测试,可以提高测试效率和准确性。

  • 引脚数: 67
  • Sireda:
  • 间距: 0.5mm

M.2接口SSD测试座

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  • ZIF结构设计,保护SSD的金手指不受划伤;

  • 顶窗式结构,结构精简,取放方便;

  •  结构小巧,占空间小,便于量产;

  • 弹片式结构,导电体短,电阻小,可以实现高速传输;




                斯纳达

SSD测试座尺寸

 


斯纳达                    


斯纳达

  • 支持不同规格的M.2固态硬盘,如2242、2260、2280等;

  • 采用全新夹紧结构,能够平稳夹紧金手指,不会对金手指造成损伤;

  • 支持自动测试平台.





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机械性能

测试座材料: 铍铜,PEI, FR4 ESD

探针类型:       弹片探针

工作温度:  -40 ~ 150

使用寿命:        >10万次


电性能

使用频率:   7GHz以上

设计阻抗:         <=50Ω


如需提供定制化的测试治具方案,请联系sales@sireda.com