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    RJ45 测试转接头

    • 引脚数8~16
    • 导电体
    • 间距1.0 mm

    用于RJ45等的功能测试,老化测试和自动化测试;使用寿命长,可达15000次以上

    1. 详细信息


    RJ45 测试转接头

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    1498021773838812.gif RJ45 等的测试转接插头

    1498021773838812.gif 比市面上销售的此类接头寿命长很多

    1498021773838812.gif 可用于功能测试,老化测试和自动化测试

    1498021773838812.gif 方便维护与更换


          RJ45 -2.jpg

                     RJ45 78mm 公头

             

       





                

           测试座|测试治具|芯片植球|

                   

                     RJ45测试转接头,双面测试

    测试座|测试治具|芯片植球|          测试座|测试治具|芯片植球|

                      RJ45测试接头,带FPC可折弯

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    • 用于RJ45接头等的功能测试,老化测试和自动化测试;

    • 采用优质不锈钢材料或工程塑胶材料,磨损低、寿命长

    • 信号PIN采用导电性佳、时延低、弹性极佳的铍铜材料,接触电阻小于50毫欧;

    • RJ45接头有多种款式,如带FPC可弯折、单面测试型、双面测试型等;

    • 使用寿命长,可达15000次以上;

    • 可极大降低维护成本及提高维护效率,无需更换整条RJ45 cable


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    机械性能

    接头材料:    PEI

    接触类型:       铍铜端子

    工作温度:  -40 ~ 125度

    接触寿命:        1.5万次


    电性能

    额定电流:  1.0A

    DC电阻:         <50毫欧

    产品编码名称描述封装引脚数    材质备注
    704-0000096测试转接头RJ45 Male 56mmRJ458PEI
    704-0000130测试转接头RJ45 Mmale 78mmRJ458 PEI
    704-0000316测试转接头RJ45 Male 90° FlexRJ45
    8
    PEI
    带FPC
    704-0000319
    测试转接头 RJ45 Male 56mm ABRJ45
    16
    PEI
    双面型








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