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测试座 – 微针模组
- 引脚数2~100
- 导电体
- 间距0.175mm ~ 0.4mm
- 封装类型ZIF, BTB 连接器 (公母座), BTB Connector, PCB
用于手机电池连接器,小间距的FPC/连接器,照相机模组、马达模组、硬盘和软盘磁头模组,各类触摸显示屏等的电气性能测试。
测试座 – 微针模组
| 微针模组 - 石墨烯涂敷保护 连接器举例 |
| 机械性能 测试座材料: LCP, PAI 或 PEEK 微针材料: 镍合金镀金 探针类型: 微针弹片(Blade Pin) 工作温度: -55 ~ 175℃ 探针寿命: 30万次 弹簧弹力: 30g ~ 50g 每 Pin 电性能 额定电流: 3A ~ 40A DC电阻: <50mΩ 接触成功率: 99.5% |
微针模组测试座的应用 |
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- 锯齿型微针用于BTB连接器公座; - 微针与连接器端子多点接触; - 接触好且稳定。
- 尖头型微针用于BTB连接器母座; - 微针针头插入连接器端子开口部位; - 接触好且稳定。 |
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