www.sireda.com

示例图片三

站内搜索

  • 读卡器 - eMMC HS400 & UFS809BGA254 eMCP - KMDH6001DM-B422BGA153 UFS - KLUDG4U1EA 适用于三星、海力士、闪迪、东芝、英特...2019-01-09
  • F1 SolutionF1方案 芯片测试、分析、验证工具 实时测量电气、计时 适用于间距0.35mm及以上产品Differential Line Return Loss(R...2018-01-31
  • F SolutionF方案 芯片测试、验证工具 一站式服务 适用于间距0.35mm 至1.27mm的封装F方案的设计主要适用于芯片的快速测试&验证, 可用于控制器,手机内...2018-01-27
  • 定制测试设备定制化测试设备 适用于基板测试,模块测试等 多工位测试,提升测试效率 适用于间距0.35mm及以上产品浮动定位专利设计,能有效避免多次定位导致的精度问...2017-12-25
  • DDR测试治具DDR测试治具 DDR颗粒的测试、诊断、验证 失效分析 DDR颗粒筛选DDR测试治具可适用于DDR颗粒的测试,筛选最高可支持3.2GHz提供GCR及P...2017-12-11
  • 存储芯片快速验证方案erposer). 把测试座安装在转接板上。       (2)BGA153 UFS快速验证并监控引出点的信号,非常方便快捷。我们已经开发出多款芯片...2020-12-25
上一页1下一页 转至第
Powered by Sireda 6.1.0 ©2011-2022 www.sireda.com