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  • RF射频测试夹具<=0.2);损耗: 随机评测(损耗增加比焊接<=0.3dB);机械性能测试座材料: 铜,PEEK陶瓷,AL, PEI探针类型:       射频探针...2022-04-22
  • RJ11测试转接头RJ11测试转接头 RJ11等的测试转接插头 有 RJ11-4P4C, RJ11-6P4C, RJ11-6P6C3个种类 可用于功能测试,老化测试和自...2022-04-21
  • 顶窗式OT款老化座 烧录座                 微针弹片顶窗式OT(Open top)测试座主要适用于芯片的快速验证,测试及烧录等, 如:eMMC, eMCP, U...2022-04-21
  • 翻盖下压老化座烧录座-0000050       eMMC BGA153 老化座应用翻盖下压测试座主要适用于芯片的快速验证,测试及烧录等, 如:eMMC, eMCP, U...2022-04-21
  • CMOS摄像头模组测试座CMOS摄像头模组测试座 适用于CMOS Sensor, CMOS模组(摄像头模组)等的手动/自动验证,测试。 适用于间距0.20mm及以上产品适用于各类摄像头模组,C...2022-04-20
  • USB 测试转接头USB 测试转接头 Micro USB, Type C, USB3.0 等的测试转接插头 比市面上销售的此类接头寿命长很多 可用于功能测试,老化测试和...2022-02-25
  • RJ45 测试转接头RJ45 测试转接头 RJ45 等的测试转接插头 比市面上销售的此类接头寿命长很多 可用于功能测试,老化测试和自动化测试 方便维护与更换       ...2022-02-25
  • USB Type C 测试转接头SB Type C 测试转接头 USB Type C, Micro USB, USB3.0 等的测试转接插头 比市面上销售的此类接头寿命长很多 可用于...2022-02-25
  • BGA200 LPDDR 测试盒直接通过Type C接头加上电就可测试,维护容易; 支持热插拔。机械性能测试座材料: AL, PEI座头材料:  AL, PEI接触类型:      ...2022-02-23
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