微针弹片顶窗式OT(Open top)测试座主要适用于芯片的快速验证,测试及...
https://www.sireda.com/product/OT老化座-cn.html测试座 – 微针模组使用特殊工艺制造的微针(Blade Pin), 微针厚度可小于100(0.1mm) 用于手机电池连接器,小间距ZIF, BTB 连接器 (...
https://www.sireda.com/product/微针模组-cn.html0.35 0.4mm 间距 微针模组胶芯组件使用特殊工艺制造的微针(Blade Pin),适用于小间距如0.35mm等的应用用于手机LCD屏幕测试,小间距连接器应用的测试;用于...
https://www.sireda.com/product/113-cn.html