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    USB 测试转接头

    • 引脚数4~24
    • 间距0.5mm
    • 导电体Other

    用于Micro USB, USB Type C, IEEE 1394等的功能测试,老化测试和自动化测试;使用寿命长,可达15000次以上

    1. 详细信息


    USB 测试转接头

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    1498021773838812.gif Micro USB, Type C, IEEE1394 等的测试转接插头

    1498021773838812.gif 比市面上销售的此类接头寿命长很多

    1498021773838812.gif 可用于功能测试,老化测试和自动化测试

    1498021773838812.gif 方便维护与更换


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    IEEE1394 4 PIN 用于母头测试 





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    Micro USB  5 PIN 用于母头测试 - I



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    Micro USB  5 PIN 用于母头测试 - II



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    USB Type-C 24 PIN 用于母头测试 



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    • 用于Micro USB, USB Type C, IEEE 1394等的功能测试,老化测试和自动化测试;

    • 采用优质不锈钢材料或工程塑胶材料,磨损低、寿命长

    • 信号PIN采用导电性佳、时延低、弹性极佳的铍铜材料,接触电阻小于50毫欧;

    • 使用寿命长,可达15000次以上;

    • 可极大降低维护成本及提高维护效率,无需更换整条USB cable


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    机械性能

    接头材料:    SUS/PEI

    接触类型:       铍铜端子

    工作温度:  -40 ~ 125度

    接触寿命:        1.5万次


    电性能

    额定电流:  1.0A

    DC电阻:         <50毫欧



    产品编码名称描述封装引脚数    材质备注
    704-0000044测试转接头Micro USB 6 PIN for FemaleMicro USB6 SUS/PEI
    704-0000045测试转接头Micro USB  5 PIN for Female - IMicro USB5 SUS/PEI
    704-0000070
    测试转接头Micro USB  5 PIN for Female - IIMicro USB5 SUS/PEI
    704-0000095测试转接头USB Type-C 24 PIN for FemaleUSB Type C24 SUS/PEI
    704-0000085测试转接头IEEE1394 4 PIN for FemaleIEEE 13944 SUS/PEI

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    标签:  Type C USB Type C IEEE 1394 测试转接头 转接插座 USB 测试插座
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