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USB 测试转接头
- 引脚数4~24
- 间距0.5mm
- 导电体Other
用于Micro USB, USB Type C, USB3.0等的功能测试,老化测试和自动化测试;使用寿命长,可达15000次以上
USB 测试转接头
704-0000233 USB3.0 A 用于母头测试 | 704-0000045 Micro USB 5 PIN 用于母头测试 - I 704-0000070 Micro USB 5 PIN 用于母头测试 - II 704-0000095 USB Type-C 24 PIN 用于母头测试 |
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| 机械性能 接头材料: SUS/PEI 接触类型: 铍铜端子 工作温度: -40 ~ 125度 接触寿命: 1.5万次 电性能 额定电流: 1.0A DC电阻: <50毫欧 |
产品编码 | 名称 | 描述 | 封装 | 引脚数 | 材质 | 备注 |
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704-0000044 | 测试转接头 | Micro USB 6 PIN for Female | Micro USB | 6 | SUS/PEI | |
704-0000045 | 测试转接头 | Micro USB 5 PIN for Female - I | Micro USB | 5 | SUS/PEI | |
704-0000070 | 测试转接头 | Micro USB 5 PIN for Female - II | Micro USB | 5 | SUS/PEI | |
704-0000095 | 测试转接头 | USB Type-C 24 PIN for Female | USB Type C | 24 | SUS/PEI | |
704-0000233 | 测试转接头 | USB3.0 for Female 55.2mm | USB3.0 | 9 | SUS/PEI |
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标签:  Type C USB Type C 测试转接头 转接插座 USB 测试插座 USB3.0
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