-
USB 测试转接头 -
USB 测试转接头
- 引脚数4~24
- 间距0.5mm
- 导电体Other
用于Micro USB, USB Type C, USB3.0等的功能测试，老化测试和自动化测试；使用寿命长，可达15000次以上
USB 测试转接头
704-0000233 USB3.0 A 用于母头测试 |
704-0000045 Micro USB 5 PIN 用于母头测试 - I
704-0000070 Micro USB 5 PIN 用于母头测试 - II
704-0000095 USB Type-C 24 PIN 用于母头测试 |
|
机械性能 接头材料： SUS/PEI 接触类型： 铍铜端子 工作温度： -40 ~ 125度 接触寿命： 1.5万次 电性能 额定电流： 1.0A DC电阻： <50毫欧 |
| 产品编码 | 名称 | 描述 | 封装 | 引脚数 | 材质 | 备注 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 704-0000044 | 测试转接头 | Micro USB 6 PIN for Female | Micro USB | 6 | SUS/PEI | |
| 704-0000045 | 测试转接头 | Micro USB 5 PIN for Female - I | Micro USB | 5 | SUS/PEI | |
| 704-0000070 | 测试转接头 | Micro USB 5 PIN for Female - II | Micro USB | 5 | SUS/PEI | |
| 704-0000095 | 测试转接头 | USB Type-C 24 PIN for Female | USB Type C | 24 | SUS/PEI | |
| 704-0000233 | 测试转接头 | USB3.0 for Female 55.2mm | USB3.0 | 9 | SUS/PEI |
USB测试转接头产品目录，请点击下载
标签: Type C USB Type C 测试转接头 转接插座 USB 测试插座 USB3.0
- 上一条SD Solution
- 下一条HDMI 测试转接头
