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USB 测试转接头 -
USB 测试转接头
- 引脚数4~24
- 间距0.5mm
- 导电体Other
用于Micro USB, USB Type C, IEEE 1394等的功能测试，老化测试和自动化测试；使用寿命长，可达15000次以上
USB 测试转接头
IEEE1394 4 PIN 用于母头测试 |
Micro USB 5 PIN 用于母头测试 - I
Micro USB 5 PIN 用于母头测试 - II
USB Type-C 24 PIN 用于母头测试 |
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机械性能 接头材料： SUS/PEI 接触类型： 铍铜端子 工作温度： -40 ~ 125度 接触寿命： 1.5万次 电性能 额定电流： 1.0A DC电阻： <50毫欧 |
| 产品编码 | 名称 | 描述 | 封装 | 引脚数 | 材质 | 备注 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 704-0000044 | 测试转接头 | Micro USB 6 PIN for Female | Micro USB | 6 | SUS/PEI | |
| 704-0000045 | 测试转接头 | Micro USB 5 PIN for Female - I | Micro USB | 5 | SUS/PEI | |
| 704-0000070 | 测试转接头 | Micro USB 5 PIN for Female - II | Micro USB | 5 | SUS/PEI | |
| 704-0000095 | 测试转接头 | USB Type-C 24 PIN for Female | USB Type C | 24 | SUS/PEI | |
| 704-0000085 | 测试转接头 | IEEE1394 4 PIN for Female | IEEE 1394 | 4 | SUS/PEI |
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标签: Type C USB Type C IEEE 1394 测试转接头 转接插座 USB 测试插座