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    DDR测试治具

    • 引脚数不限
    • 间距大于0.35mm
    • 导电体Pogo pin

    提供8位及16位的测试治具,限位框可更换,导电体采用GCR或者探针,DDR3和DDR4结构兼容;最高频率可达3.2GHz.

    1. 详细信息

    DDR测试治具

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    1498021773838812.gif DDR颗粒的测试、诊断、验证

    1498021773838812.gif 失效分析

    1498021773838812.gif DDR颗粒筛选

    DDR Solution.jpg



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    • DDR测试治具可适用于DDR颗粒的测试,筛选

    • 最高可支持3.2GHz

    • 提供GCR及Pogo Pin二种导电方式

    • 采用测试专用 PCB, 金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的5倍,保证测试

      治具有更好的导通性和耐磨性

    • 高精度金属IC定位框,保证IC定位精度

    • 结构设计兼容DDR4, DDR3升级到DDR4只需更换PCBA

    • 产品通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试不同尺寸的颗粒


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    机械性能

    测试座材料: Peek陶瓷/ FR-4

    座头材料:  AL

    探针类型:       弹簧探针/导电胶

    工作温度:  -40 ~ 140度

    探针寿命:        10万次

    弹簧弹力:  20g ~ 30g per Pin


    电性能

    额定电流:  3A

    DC电阻:          80毫欧(最大)


    产品编码名称描述封装引脚数导电体
    材质备注
    703-0000253DDR Fixture
    BGA96 0.8mm DDR3x16 PIN C 4ea BGA96Pogo Pin
    Peek陶瓷
    703-0000295DDR FixtureBGA96 0.8mm DDR3x16 GCR D C 4eaBGA96GCR

    703-0000321DDR FixtureBGA78 0.8mm DDR3x8 GCR D C 8eaBGA78GCR
    Peek陶瓷
    703-0000290DDR FixtureBGA84 0.8mm DDR2x16 IG/B 4eaBGA84GCR
    Peek陶瓷
    703-0000283DDR FixtureBGA96 0.8mm DDR4x16 PIN D C 4ea BGA96GCR
    Peek陶瓷

    我司提供DDR2,DDR3,DDR4测试方案,并根据不同的客户需求开发了导电胶款(GCR)、探针款(Pogo Pin), 更多DDR测试治具方案请点击DDR治具目录

    如需提供定制化的测试治具方案,请联系sales@sireda.com



    标签:  BGA153 UFS DDR治具 内存条测试 内存颗粒测试
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