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SOP开尔文测试座ATE

SOP开尔文测试座ATE

开尔文测试座用于开尔文四线检测，也被称之为四端子检测（4T检测， 4T sensing）、四线检测或4点探针法，它是一种电阻抗测量技术，使用单独的对载电流和电压检测电极，相比传统的两个终端（ 2T）传感能够进行更精确的测量。

  • 引脚数： 8~60 或以上
  • Sireda：
  • 间距： 0.5mm或以上

开尔文测试座- 自动式

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1498021773838812.gif适用于SOP封装的模拟电路测试

1498021773838812.gif适用的封装有：SOP, PSOP, QSOP, SSOP, TSSOP, 等

1498021773838812.gif适用于间距0.5mm及以上产品

1498021773838812.gif寿命30万次以上


kelvin socket 08.png

     SOP开尔文测试座


Kevin Socket with PCB.png

    带PCB的开尔文测试座


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           SOP8 0.65mm间距开尔文测试座尺寸图Base.png

            SOP8开尔文测试座带转接模组

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  • 开尔文测试座用于SOP封装的模拟电路测试，电流测试值更准确。

  • SOP封装的每个针脚均为２点接触。

  • 可以根据客户的要求设计转接模组。

  • 根据客户的需求，也可以定制PCB板配套出售。

  • 其他封装，如QFN或DFN也可以定制开尔文测试座。

1503280498569006.jpg

机械性能

测试座材料：　PEI

探针类型：       弹片针

工作温度：　　-40 ~ 125度

探针寿命：        30~50万次

弹簧弹力：　　20g ~ 30g 每Pin


电性能

额定电流：　　1A

DC电阻：          100毫欧(最大)


产品编码名称描述封装引脚数材质备注
702-0001725Test SocketSOP28 0.65mm Kelvin ATESOP56PEI

702-0001952Test SocketSOP28 0.635mm Kelvin ATESOP56PEI
702-0001947Test SocketSOP20 0.65mm Kelvin ATESOP40PEI
702-0001920Test SocketSOP8 1.27mm Kelvin ATESOP16PEI
702-0001944Test SocketSOP16 1.27mm Kelvin ATESOP32PEI

提供SOP开尔文自动测试座，需更多开尔文测试座信息，请联系我们：sales@sireda.com.

标签: kelvin 测试 kelvin 测试座 开尔文测试座 SOP测试

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