Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

DDR测试治具

提供8位及16位的测试治具，限位框可更换，导电体采用GCR或者探针，DDR3和DDR4结构兼容；最高频率可达3.2GHz.

引脚数：不限
Sireda：
间距：大于0.35mm

详细信息

DDR测试治具

DDR3 DDR4 DDR5 颗粒的测试、诊断、验证

失效分析

DDR颗粒筛选

DDR测试治具可适用于DDR颗粒的测试，筛选
最高可支持3.2GHz
提供GCR及Pogo Pin二种导电方式
采用测试专用 PCB, 金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的5倍，保证测试
治具有更好的导通性和耐磨性
高精度金属IC定位框，保证IC定位精度
结构设计兼容DDR4， DDR3升级到DDR4只需更换PCBA
产品通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试不同尺寸的颗粒

机械性能

测试座材料：　Peek陶瓷/ FR-4

座头材料：　　AL

探针类型：弹簧探针/导电胶

工作温度：　　-40 ~ 140度

探针寿命： 10万次

弹簧弹力：　　20g ~ 30g per Pin

电性能

额定电流：　　3A

DC电阻： 80毫欧(最大)

产品编码	名称	描述	封装	引脚数	导电体
703-0001227	DDR5 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR5x8 PCR 8ea 8824A	BGA	82	PCR
703-0001320	DDR5 Test Fixture	BGA106 0.8mm DDR5x16 10x14.1mm PCR 4ea	BGA	106	PCR
703-0000696	DDR4 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR4x8 PIN D C 8ea	BGA	78	Pogo Pin
703-0000822	DDR4 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR4x8 PCR TN 8ea	BGA	78	PCR
703-0000799	DDR3 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR3x8 PCR TN 8ea	BGA	78	PCR
703-0001006	DDR4 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR4x8 10.3x11mm JI PCR 18ea	BGA	78	PCR
703-0001334	DDR4 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR4x8 JI PCR 8ea KO-10081	BGA	78	PCR
703-0000969	DDR4 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR4x8 2.5PIN 8ea	BGA	78	Pogo Pin
703-0000981	DDR4 Test Fixture	BGA78 0.8mm DDR4x8 JI PCR 8ea	BGA	78	PCR
703-0000800	DDR3 Test Fixture	BGA96 0.8mm DDR3x16 PCR TN 4ea	BGA	96	PCR
703-0000823	DDR4 Test Fixture	BGA96 0.8mm DDR4x16 PCR TN 4ea	BGA	96	PCR
703-0001156	DDR4 Test Fixture	BGA96 0.8mm DDR4x16 KO8598A JI PCR 4ea	BGA	96	PCR
703-0001225	DDR4 Test Fixture	BGA96 0.8mm DDR4x16 KO8598A PIN 4ea	BGA	96	Pogo Pin

我司提供DDR2,DDR3,DDR4 DDR5测试方案，并根据不同的客户需求开发了导电胶款(GCR)、探针款(Pogo Pin)，更多DDR测试治具方案请点击DDR治具目录

如需提供定制化的测试治具方案，请联系sales@sireda.com

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