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RF射频测试夹具

  • 引脚数8~1000
  • 导电体
  • 间距0.35mm ~ 1.0mm
  • 封装类型BGA, QFN, LGA, ...

用于各种射频芯片,射频模组的测试,射频频率可达60GHz。采用射频导电膜和射频探针板,提高芯片的接地性能和散热性能。

  1. 详细信息

RF射频夹具

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1498021773838812.gif 满足60GHz以内射频产品的性能指标测试,解决射频测试连接问题。

1498021773838812.gif 同时具备外部控制(矩形插头)和射频输出接口(可以根据客户要求配置)。

1498021773838812.gif 射频传输PCB可由客户自己提供,或由我司设计仿真加工。

1498021773838812.gif 高度定制,性能可靠。

1498021773838812.gif 设计阻抗:50Ω

   测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

                        RF常规测试夹具

夹具核心部件

 

1. 射频导电膜     

我司自主开模制作0.1~0.4mm射频导电膜,由于厚度是影响射频指标的关键因素,经过仿真计算我司得出该范围导电膜可以将影响降到最低,经过实际测试效果很好,可以根据BGA芯片测试点进行匹配制作。                  

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2. 射频探针板

射频探针板通过在探针安装板上做绝缘处理,已解决控制供电短路问题,射频信号测试传输点通过仿真后在金属探针安装板上钻孔填充绝缘子,利用金属探针安装板孔内径做射频外屏蔽层匹配,起到良好的射频匹配性,其他接地探针直接安装到镀金金属探针安装板上,使芯片接地点通过镀金板全部连通,提高芯片的接地性能和散热性能。

                         测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

3. 同轴与PCB混合板

将射频电缆直接镶嵌到芯片接地板上,直接利用同轴线缆中心导体进行射频信号传输,同轴线外屏蔽层与芯片接地板压接,这样可以保证射频信号的有效传输,同时同轴电缆屏蔽层与芯片接地融为一体,起到非常好的屏蔽和抗干扰作用,让射频指标通过同轴电缆传输,保证了指标性能。


                              测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|

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  • 用于各种射频芯片或射频模组的测试;

  • 频率范围: 0~60GHz (90GHz正在研发中);

  • 设计阻抗: 50Ω;

  • 驻波: 随机评测(驻波恶化比焊接<=0.2)

  • 损耗: 随机评测(损耗增加比焊接<=0.3dB);



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机械性能

测试座材料: 铜,PEEK陶瓷,AL, PEI

探针类型:       射频探针,射频导电膜

工作温度:  -45 ~ 125

使用寿命:        1.2~6万次


电性能

使用频率:  DC~60GHz

设计阻抗:         <=50Ω

射频夹具的应用

    测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|  测试座|测试接头|测试治具|芯片植球|        

                                        10GHz射频测试夹具                                                             60GHz射频测试夹具
                                                                             

结合客户提供的信息和资料,设计具备与客户产品尺寸和测试功能点匹配的夹具,该夹具同时具备外部控制(矩形插头)和射频输出的接口(1.85mm射频同轴连接器,可以根据客户要求配置),用于连接仪器仪表最终实现产品性能的测试。

夹具由夹具安装底板、连接器安装腔体、同轴线安装板、矩形连接器、射频导电膜(导电针板)、信号传输PCB、射频线缆组件、产品定位组件以及产品压紧组件构成。



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