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    USB Type C 测试转接头

    • 引脚数4~24
    • 导电体
    • 间距0.5mm

    用于USB Type C, Micro USB, USB3.0等的功能测试,老化测试和自动化测试;使用寿命长,可达15000次以上

    1. 详细信息


    SB Type C 测试转接头

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    1498021773838812.gif USB Type C, Micro USB, USB3.0 等的测试转接插头

    1498021773838812.gif 比市面上销售的此类接头寿命长很多

    1498021773838812.gif 可用于功能测试,老化测试和自动化测试

    1498021773838812.gif 方便维护与更换


    测试座|测试治具|芯片植球|

      704-0000233 USB Type C 公头

    测试座|测试治具|芯片植球|

     704-0000045 Micro USB 5 PIN 公头



    测试座|测试治具|芯片植球|

                 704-0000293 USB Type C 设计图

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    • 用于USB Type C, Micro USB, USB3.0 等的功能测试,老化测试和自动化测试;

    • 采用优质不锈钢材料或工程塑胶材料,磨损低、寿命长

    • 信号PIN采用导电性佳、时延低、弹性极佳的铍铜材料,接触电阻小于50毫欧;

    • 使用寿命长,可达15000次以上;

    • 可极大降低维护成本及提高维护效率,无需更换整条USB cable


    1503280498569006.jpg

    机械性能

    接头材料:    PEI

    接触类型:       铍铜端子

    工作温度:  -40 ~ 125度

    接触寿命:        1.5万次


    电性能

    额定电流:  1.0A

    DC电阻:         <50毫欧

    产品编码名称描述封装引脚数    材质备注
    704-0000293测试转接头USB Type-C Male MUSB Type C
    24PEI
    704-0000045测试转接头Micro USB 2.0 Male 180° MMicro USB5 SUS/PEI
    704-0000294测试转接头HDMI Male VI MHDMI
    19PEI
    704-0000292测试转接头HDMI Female IIHDMI19PEI

    704-0000316测试转接头RJ45 Male FPC 90° RJ458 PEIWith FPC

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