Support: PCIe Gen4 and SAS4.0

双测试夹结构测FPC导通性

2020-12-25 11:17:40


双测试夹结构,用于测试折弯FPC(客户有意折弯)的导通性,很好地确保了FPC折弯后的品质。

特点:结构紧凑,操作方便。